產(chǎn)品中心
當前位置:首頁產(chǎn)品中心半導體光學檢測系列SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像監(jiān)測系統(tǒng)
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半導體光學檢測系列
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提升碳化硅成像檢測系統(tǒng)精度的關鍵技術分析
碳化硅成像檢測的應用領域
碳化硅襯底檢測的重要性與方法
如何挑選適合的激光器品牌?
創(chuàng)銳光譜堅持自主創(chuàng)新、技術獨立 推進高端科研儀器國產(chǎn)化替代和前沿引領
飛秒時間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)的適用性
碳化硅成像檢測,SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng):晶圓襯底質(zhì)量(載流子壽命)高速成像,快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
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