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當前位置：首頁產品中心半導體光學檢測系列SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統

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半導體光學檢測系列

SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統 SiC晶圓少子壽命質量成像監測系統鈣鈦礦太陽能電池綜合性能分析系統 Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統

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碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統

碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。

更新時間：2025-05-07

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